??GB/T2423.7-1995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗Ec和導(dǎo)則:傾跌與翻倒(主要用于設(shè)備型樣品)
??GB/T2423.8-1995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗Ed:自由跌落
??GB/T2423.9-2001電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Cb:設(shè)備用恒定濕熱試驗方法
??GB/T2423.10-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗Fc和導(dǎo)則:振動(正弦)
??GB/T2423.11-1997電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗Fd:寬頻帶隨機(jī)振動
??GB/T2423.15-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗Ga和導(dǎo)則:穩(wěn)態(tài)加速度
??GB/T2423.16-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗J和導(dǎo)則:長霉
??GB/T2423.17-2008電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程第2部分:試驗方法試驗Ka;鹽霧試驗方法
??GB/T2423.18-2000電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗試驗Kb:鹽務(wù),交變(氯化鈉溶液)
??GB/T2423.19-1981電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Kc:接觸點和連接件的二氧化硫試驗方法
??GB/T2423.20-1981電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Kd:接觸點和連接件的硫化氫試驗方法
??GB/T2423.21-2008電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗M:低氣壓試驗方法
??GB/T2423.22-2002電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗N:溫度變化試驗方法
??GB/T2423.23-1995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗試驗Q:密封
??GB/T2423.24-1995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗試驗Sa:模擬地面上的太陽輔射
??GB/T2423.25-2008電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Z/AM:低溫/低氣壓綜合試驗
??GB/T2423.26-2008電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Z/BM:高溫/低氣壓綜合試驗
??GB/T2423.27-2005電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Z/AMD:低溫/低氣壓/濕熱連續(xù)綜合試驗
??GB/T2423.28-2005電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗T:錫焊試驗方法
??GB/T2423.29-1999電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗U:引出端及整體安裝件強(qiáng)度
??GB/T2423.30-1999電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗XA和導(dǎo)則:在清洗劑中浸漬
??GB/T2423.31-1985電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程傾斜和搖擺試驗方法
??GB/T2423.33-2005電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Kca:高濃度二氧化硫試驗方法
??GB/T2423.34-2005電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Z/AD:溫度/濕度組合循環(huán)試驗方法
??GB/T2423.35-2005電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Z/Afc:散熱和非散熱試驗樣品的低溫/振動(正弦)綜合試驗方法?
??GB/T2423.36-2005電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗ZBFc:散熱和非散熱樣品的高溫/振動(正弦)綜合試驗方法
??GB/T2423.37-2006電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗L:砂塵試驗方法
??GB/T2423.38-2005電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗R:水試驗方法
??GB/T2423.39-2008電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Ee:彈跳試驗方法
??GB/T2423.40-1997電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗Cx:未飽和高壓蒸汽恒定濕熱
??GB/T2423.41-1994電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程風(fēng)壓試驗方法
??GB/T2423.42-1995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗低溫/低氣壓/振動(正弦)綜合試驗方法
??GB/T2423.43-2008電 工電子 產(chǎn)品環(huán)境試 驗第2部分 :試驗 方法元件 \設(shè)備 和其它產(chǎn) 品在沖擊( Ea) 、碰撞 (Eb)、振 動(Fc和F d)和 穩(wěn)態(tài)加 速 度(Ga)等動力學(xué)試驗中的安裝要求和導(dǎo)則
??GB/T2423.44-1995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗Eg:撞擊彈簧錘
??GB/T2423.45-1997電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗Z/ABDM:氣候順序
??GB/T2423.50-1999電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗Cy:恒定濕熱主要用元件的加速試驗
??GB/T2423.51-2000電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗Ke:流動混合氣體腐蝕試驗
??GB/T2423.52-2003電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗77:結(jié)構(gòu)強(qiáng)度與撞擊
??GB/T2423.53-2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗xb:由手摩擦造成標(biāo)記和印刷文字的磨損
??GB/T2423.54-2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗Xc:流體污染
??GB/T2423.55-2006電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗eh:錘擊試驗
??GB/T2423.56-2006電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗Fh:寬帶隨機(jī)動動(數(shù)字控制)和導(dǎo)則
??GB/T2423.57-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗Ei:沖擊-沖擊響應(yīng)譜合成
??GB/T2423.58-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗Fi:振動-混合模式
??GB/T2423.59-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗Z-Abmh:溫度(低溫,高溫),低氣壓,振動(隨機(jī))綜合 GB/T2423.60-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗U:引出端及整體安裝件強(qiáng)度
??GB/T2423.101-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗:傾斜和搖擺
??GB/T2423.102-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗:溫度(低溫,高溫),低氣壓,振動(正弦)綜